연구보고서
차세대 반도체 소자의 Progressive Failure 해석 기술 및 AI 기반 내구성 예측 자가진단 시스템 개발
(Development of progressive failure technology and AI-based self-diagnosis system for next-generation semiconductor devices)
| 등록번호 | TRKO202400010594 | 발행년월 | 2023-06 |
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| 발행기관명 | 서강대학교 | 발행국가/사용언어 | 대한민국 /국문 |
| 발주기관 | 한국연구재단 | 과제관리(전문)기관 | 한국연구재단 |
| 키워드 |
반도체 소자;내구 수명 예측;상장모델;피로파괴;인공지능;
Stacked MOSFET;Durable life prediction;Phase field model;Fatigue-fracture;AI; |
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